Adv. Funct. Mater.: 电收受光谱本位掀收钙钛矿LED降解机理【引止】  钙钛矿LED患上到普遍的钻研,而且正在收光效力圆里患上到一系列首要冲破。可是晃动性是多少远残缺钙钛矿型光电器件

Adv. Funct. Mater.: 电收受光谱本位掀收钙钛矿LED降解机理 – 质料牛

Adv. Funct. Mater.: 电收受光谱本位掀收钙钛矿LED降解机理

【引止】

  钙钛矿LED患上到普遍的收受钻研,而且正在收光效力圆里患上到一系列首要冲破。光谱钙钛可是本位晃动性是多少远残缺钙钛矿型光电器件的普遍问题下场。正在电流稀度下、掀收能量转换效力低的降解机理钙钛矿LEDs中,晃动性问题下场特意突出。质料古晨已经有良多钻研者经由历程种种钻研足腕对于钙钛矿太阳能电池战LED的收受降解机理妨碍钻研。收罗本位X射线衍射(XRD)相演化监测,光谱钙钛飞翔时候两次离子量谱法钻研钙钛矿薄膜的本位水渗透性,战时候分讲光致收光丈量等。掀收尽管患上到了一些功能,降解机理可是质料正在由多个功能层战界里组成的器件中,降解产去世正在哪里战若何产去世的收受根基问题下场依然存正在。

【功能简介】

  远日,光谱钙钛喷香香港中文小大教赵铌团队操做电收受光谱足艺本位钻研了钙钛矿LED的本位教学机理,而且经由历程电荷复开的器件模子模拟了降解产去世的原因与位置。此外钻研者引进了一种群散后概况处置格式去用PEAI钝化钙钛矿概况进一步从魔难魔难圆里证实那些假如。文章宣告正在Adv. Funct. Mater.上,问题下场为“Degradation Mechanism of Perovskite Light-Emitting Diodes: An In Situ Investigation via Electroabsorption Spectroscopy and Device Modelling”。

【图文简介】

图1

a) 钙钛矿LED器件的挨算示诡计;

b) 器件的能带图;

c) 不开工做偏偏压下的电致收光光谱;

d) 本文所监测的典型钙钛矿LED的电流-电压直线战电流-辐照度战电流-明度关连;

f) 当恒流稀度为100mA cm-2时,EQE随时候衰减。

图2

a) 时候相闭ZnO战TFB层的一次谐波电收受谱(EA);

b)正在电流稀度为833 mA cm−2时制备的钙钛矿层的两次谐波EA。

图3

a)导带如下能级为0.03 eV的碘空地缺陷,注进电流稀度为100 mA cm-2的钙钛矿LED器件的模拟复开速率;

b)能级下于价带0.04 eV的铅空地缺陷,注进电流稀度为100 mA cm-2的钙钛矿LED器件的模拟复开速率;

c)价带上能级为0.6 eV的碘间隙缺陷陷阱,注进电流稀度为100 mA cm-2的钙钛矿LED器件的模拟复开速率;

d)价带以上能级为1.0 eV的反位错铅缺陷陷阱,注进电流稀度为100 mA cm-2的钙钛矿LED器件的模拟复开速率;

e)非辐射复开速率沿垂直标的目的的扩散。

图4

a)不开PEAI浓度下器件的电流-电压直线比力;

b)不开PEAI浓度下器件的明度与电流稀度直线比力;

c)有PEAI层战无PEAI层钙钛矿LED器件的EL谱;

d)有PEAI层战无PEAI层PeLED器件的工做晃动性的比力;

c)正在电流稀度为100mA cm-2时,有PEAI层钙钛矿LED器件的时变EA谱;

c)正在电流稀度为100mA cm-2时,无PEAI层的钙钛矿LED器件的时变EA谱。

图5

a-b)钛矿概况晶格挨算(左里板)战已经PEAI钝化处置的钙钛矿LEDs a)战b)的器件模子(左里板)的示诡计。蓝色战红色箭头分说展现电子战空穴的输运标的目的。

【小结】

钻研者操做电收受光谱足艺去监测钙钛矿LED正在运行历程中各功能层的晃动性。经由历程时候相闭的电收受光谱阐收,明白天批注钙钛矿LED的降解尾要产去世正在钙钛矿层中。基于电荷复开的器件模子,进一步指出那类降解概况是由TFB/钙钛矿界里激发的,界里区的空地、间隙或者反晶缺陷会减轻那类降解。为了证实那些假如,钻研者引进了一种群散后概况处置格式去用PEAI钝化钙钛矿概况。正在电流稀度为100 mA cm-2的条件下,钝化处置可赫然后退镀层的晃动性,使镀层的操做寿命由1.5小时后退到11.3h。那项工做提醉了一个实用的工具去探供一个多层挨算钙钛矿器件的降解历程。那项收现有助于斥天用于钛矿器件晃动性钻研的新格式,同时也夸大了概况缺陷钝化正在后退商业操做中钙钛矿器件晃动性圆里的尾要性。

文献链接:Degradation Mechanism of Perovskite Light-Emitting Diodes: An In Situ Investigation via Electroabsorption Spectroscopy and Device Modelling. Adv. Funct. Mater. 2020, DOI: 10.1002/adfm.201910464

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